BS 3921-1985 粘土砖规范

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【英文标准名称】:Industrialautomationsystemsandintegration-Productdatarepresentationandexchange-Part1001:Applicationmodule:Appearanceassignment
【原文标准名称】:工业自动化系统和集成产品数据表示和交换第1001部分：应用模式：外观评定
【标准号】:ISO/TS10303-1001-2001
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2001-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/TC184
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:计算机应用;外观;表示法;自动化系统;定义;数据表示;自动化;数据交换;产品数据;特性
【英文主题词】:automationsystems;automation;appearance;productdata;datarepresentation;definitions;characteristics;computerapplications;definition;representations;dataexchange
【摘要】:
【中国标准分类号】:N17
【国际标准分类号】:35_240_50
【页数】:33P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Microbeamanalysis-InstrumentalspecificationforenergydispersiveX-rayspectrometerswithsemiconductordetectors
【原文标准名称】:微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
【标准号】:ISO15632-2002
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2002-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC202
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子束;分析方法;半导体器件;X射线分光仪;X射线光度法;微量分析;半导体二极管;半导体探测器;测量仪器;定义
【英文主题词】:Analysismethods;Definitions;Electronbeams;Measuringinstruments;Microanalysis;Semiconductordetectors;Semiconductordevices;Semiconductordiodes;X-rayspectrometer;X-rayspectrometry
【摘要】:本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器利信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作原理的半导体探测器EDS。本标准准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)此类EDS的的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。
【中国标准分类号】:N50
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:11P.;A4
【正文语种】:英语